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薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。

AVI-600系列 主動(dòng)式防震系統(tǒng)為緊湊型的主動(dòng)隔振系統(tǒng)，是納米技術(shù)大型儀器隔振的解決方案。對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來說是不錯(cuò)的選擇。

F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。而且能在幾分之一秒內(nèi)完成。

F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實(shí)時(shí)攝像頭，可以精確監(jiān)控膜厚測量點(diǎn)。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測量性能。

F54-XY-200薄膜厚度測量儀：借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn)并提供厚度測量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點(diǎn)數(shù)量。

HS華山系列被動(dòng)式減震臺采用：半膜片式空氣彈簧、整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面（同OTP臺面）的氣浮隔振光學(xué)平臺，整體高度800mm，分為氣浮式支架和臺面兩部分。