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當前位置:首頁產品中心暖通環(huán)保風速儀KLA探針式臺階儀P-7

KLA探針式臺階儀P-7
產品簡介:

KLA探針式臺階儀P-7:P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。

產品型號:

更新時間:2024-11-20

廠商性質:代理商

訪問量:235

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4006981718

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產品介紹

KLA探針式臺階儀P-7產品描述

P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。


P-7建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了很好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。



KLA探針式臺階儀P-7



KLA探針式臺階儀P-7KLA探針式臺階儀P-7


KLA探針式臺階儀P-7主要功能

  •       臺階高度:幾納米至1000μm

  •       微力恒力控制:0.03至50mg

  •       樣品全直徑掃描,無需圖像拼接

  •       視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像機

  •       圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差

  •       軟件:簡單易用的軟件界面

  •       生產能力:通過測序,模式識別和SECS / GEM實現(xiàn)全自動化


主要應用

  •       臺階高度:2D和3D臺階高度

  •       紋理:2D和3D粗糙度和波紋度

  •       形狀:2D和3D翹曲和形狀

  •       應力:2D和3D薄膜應力

  •       缺陷復檢:2D和3D缺陷表面形貌


工業(yè)應用

  •       大學、研究實驗室和研究所

  •       半導體和化合物半導體

  •       LED:發(fā)光二極管

  •       太陽能

  •       MEMS:微機電系統(tǒng)

  •       數據存儲

  •       汽車

  •       醫(yī)療設備


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